出品人:吴非

博士,华中科技大学计算机科学与技术学院存储所副教授

吴非博士目前主要从事计算机系统结构、新型存储器件及体系结构、大规模存储系统能耗优化和高效能策略分析等方面的研究。

主题:存储可靠性与测试技术

内容简介:存储可靠性是数据存储的基石,如何对存储可靠性进行定性和定量的分析测试以及优化,且听大咖讲述。

演讲嘉宾:廖安仁

华澜微技术市场副总裁

主题:高可靠存储控制器设计与存储模块测试系统设计

闪存进入3D时代之后的变革越来越快,如何在存储控制器的设计时就能够考虑好产品应用的高可靠性,有哪些重點是在芯片設計端就需要考慮的?从控制器到模块的过程中,如何通过系統硬件设计保证产品的可靠,如何设计存储模块测试流程,使得测试模式更加全面有效,并能够和控制器设计进行有效配合,是未来保证模块可靠性的前提条件。

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